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傅里葉紅外光譜儀

簡要描述:傅里葉紅外光譜儀
一、應用:用于半導體材料內(nèi)部含量檢測,同質(zhì)外延厚度測量和其他應用,用于*進的半導體工廠,在硅生長和器件制造領(lǐng)域進行材料表征
二、技術(shù)參數(shù):
1.光譜范圍:遠紅外、中紅外、近紅外、可見光
2. 信噪比:>55000:1
3.光譜分辨率(cm-1):<0.09電阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-09-06
  • 訪  問  量: 922

詳細介紹

一、產(chǎn)品概述:

傅里葉紅外光譜儀FTIR)是一種高精度的光譜分析儀器,廣泛應用于化學、材料科學、環(huán)境監(jiān)測和生物醫(yī)學等領(lǐng)域。它的工作原理基于材料對紅外輻射的吸收特性,通過分析分子振動和旋轉(zhuǎn)模式,提供有關(guān)樣品分子結(jié)構(gòu)和成分的重要信息。與傳統(tǒng)的紅外光譜儀相比,F(xiàn)TIR具有更高的靈敏度和分辨率,使其能夠檢測和識別復雜混合物中的微量成分。

二、設(shè)備用途/原理

·設(shè)備用途

傅里葉紅外光譜儀主要用于定性和定量分析各種化合物,包括有機和無機物質(zhì)。研究人員可以利用該儀器進行材料表征、污染檢測、藥物分析和生物樣品研究,以了解樣品的化學結(jié)構(gòu)和組成。

·工作原理

傅里葉紅外光譜儀通過發(fā)射紅外光束到樣品上,測量樣品對不同波長的紅外光的透過率或反射率。儀器內(nèi)部使用干涉儀將光信號轉(zhuǎn)換為干涉圖譜,隨后利用傅里葉變換算法將干涉圖譜轉(zhuǎn)換為光譜數(shù)據(jù)。用戶可以分析光譜中出現(xiàn)的特征峰,識別樣品中的功能團和化合物,從而獲得詳細的化學信息。

三、主要技術(shù)指標:

1. 應用:用于半導體材料內(nèi)部含量檢測,同質(zhì)外延厚度測量和其他應用,用于優(yōu)良的半導體工廠,在硅生長和器件制造域進行材料表征

2. 光譜范圍:遠紅外、中紅外、近紅外、可見光

3. 信噪比:>55000:1

4. 光譜分辨率(cm-1):<0.09電阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm      


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