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簡要描述:TEM Mill 精密離子減薄儀 功能介紹:1. 樣品載臺(tái)X-Y可調(diào),可根據(jù)需要調(diào)整樣品減薄位置2. 具備原位實(shí)時(shí)觀察及記錄減薄過程功能3. 樣品可360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)或搖擺,離子束自動(dòng)避讓樣品夾4. 可通過時(shí)間、溫度以及透光性自動(dòng)停止5. 可選液氮冷臺(tái)配置,去除熱效應(yīng)對樣品的損傷6.可選真空或惰性氣體轉(zhuǎn)移裝置,隔絕樣品與水氧接觸
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精密離子減薄儀是一種高精度的樣品制備設(shè)備,專門用于通過離子轟擊去除材料表面層,以實(shí)現(xiàn)樣品的薄化和表面優(yōu)化。該儀器廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子顯微鏡樣品制備和半導(dǎo)體行業(yè)。
精密離子減薄儀主要用于制備電子顯微鏡樣品,幫助研究人員獲得高質(zhì)量的超薄樣品,以便進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)分析和材料特性研究。它也適用于去除表面缺陷和改善材料的表面質(zhì)量,以滿足高的應(yīng)用需求。
精密離子減薄儀通過生成高能離子束并將其聚焦到樣品表面,利用離子轟擊去除表面材料。儀器可以精確控制離子束的能量、轟擊角度和處理時(shí)間,以實(shí)現(xiàn)均勻的減薄效果。通過調(diào)節(jié)這些參數(shù),用戶能夠獲得所需的樣品厚度和表面特性,確保樣品在后續(xù)電子顯微鏡觀察中的高分辨率和準(zhǔn)確性。
1. 兩支獨(dú)立可調(diào)電磁聚焦離子槍
2. 同時(shí)具備高能量(快速拋光)和低能量(精細(xì)修復(fù))
3. 超寬加速電壓范圍:100eV 到 10kV,不同加速電壓下,離子束束斑均保持細(xì)優(yōu)束斑狀態(tài)
4. 每支離子槍均配備對應(yīng)法拉第杯進(jìn)行離子束直接探測
5. 采用可調(diào)節(jié)10英寸觸屏控制系統(tǒng),人機(jī)界面友好,操作簡潔
6. 自動(dòng)獨(dú)立氣源控制
7. 減薄角度范圍:-15°~+10°連續(xù)可調(diào)
8. 樣品載臺(tái)X-Y可調(diào),可根據(jù)需要調(diào)整樣品減薄位置
9. 具備原位實(shí)時(shí)觀察及記錄減薄過程功能
10 .樣品可360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)或搖擺,離子束自動(dòng)避讓樣品夾
11. 可通過時(shí)間、溫度以及透光性自動(dòng)停止
12. 可選液氮冷臺(tái)配置,去除熱效應(yīng)對樣品的損傷
13. 可選真空或惰性氣體轉(zhuǎn)移裝置,隔絕樣品與水氧接觸
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