當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體前道工藝設(shè)備 > 5 刻蝕設(shè)備 > PlasmaPro 100 ALE原子層刻蝕
簡(jiǎn)要描述:ALE是一種先進(jìn)的刻蝕技術(shù),可以針對(duì)較淺的微結(jié)構(gòu)進(jìn)行出色的深度控制。 隨著器件微結(jié)構(gòu)尺寸越來越小,要達(dá)到器件的更高性能可以通過ALE技術(shù)所具有的精度來實(shí)現(xiàn)。在如今的先進(jìn)微電子器件制造中,高保真度的圖案轉(zhuǎn)移(刻蝕)是至關(guān)重要的。隨著特征尺寸縮小至亞10納米級(jí)別,以及新型器件采用超薄的二維材料,對(duì)原子尺度保真度的需求不斷增加。原子層刻蝕(ALE)技術(shù)克服了傳統(tǒng)(連續(xù))刻蝕技術(shù)在原子尺度上的局限
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可實(shí)現(xiàn)刻蝕層的高深度精度
最大可加工200 mm的晶圓,典型均勻度<±2%
利用先進(jìn)的技術(shù)對(duì)刻蝕深度進(jìn)行高度控制
對(duì)襯底的損害小
可與標(biāo)準(zhǔn)ICP結(jié)合使用
原子層刻蝕通常包括4個(gè)步驟的周期,根據(jù)需要可重復(fù)多次,以達(dá)到所需的刻蝕深度。以下是使用 Cl2/Ar進(jìn)行AlGaN刻蝕的ALE示例:
步驟 1) 對(duì)基底進(jìn)行刻蝕氣體的投放,刻蝕氣體吸附在刻蝕材料上并與之發(fā)生反應(yīng)。通常,刻蝕氣體經(jīng)等離子體解離以增強(qiáng)吸附速率。通過正確選擇投放氣體和參數(shù),這個(gè)步驟可以實(shí)現(xiàn)自限制,即在吸附一層分子后化學(xué)投放停止。
步驟 2) 清除所有剩余的投放氣體
步驟 3) 用低能惰性離子轟擊表面,去除已發(fā)生反應(yīng)的表面層。如果離子的能量足以去除化學(xué)修飾層,但不足以(濺射)刻蝕下層塊狀材料,這可能是自限制。
步驟 4)清除腔室內(nèi)的刻蝕產(chǎn)物。
采用低離子能量,刻蝕損傷小
精確控制刻蝕深度
超薄層去除
自限制行為
選擇性高,因?yàn)榭蓪?duì)劑量氣體和離子能量進(jìn)行定制,以盡量減少對(duì)掩膜層或底層材料的刻蝕
刻蝕速率受刻蝕特征長(zhǎng)寬比的影響較?。礈p少ARDE),因?yàn)樽杂苫墓?yīng)和表面離子轟擊已分成獨(dú)立的步驟
由于具有自限性,均勻性得到改善
刻蝕表面光滑
由于依賴離子轟擊,因此具有各向異性
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