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產(chǎn)品分類
Product Category聚焦離子束系統(tǒng)FIB是將離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速,聚焦后作用于樣品表面,應用于:產(chǎn)生二次電子信號取得電子像,此功能與SEM相似,用強電流離子束對表面原子進行剝離,以完成微、納米級表面形貌加工,通常是以物理濺射的方式搭配化學氣體反應,有選擇性的剝除金屬,氧化硅層或沉積金屬層。
掃描電鏡SEM簡介:FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應用于納米技術(shù)、半導體、電子器件、生命科學、材料等領域。