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Comet Yxlon開(kāi)發(fā)了CTScan 3線探測(cè)器陣列（LDA），以滿足客戶的特殊要求和具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。憑借其前未有的信噪比、動(dòng)態(tài)范圍和 254 μm 的像素間距，它是對(duì)大型和/或密集組件進(jìn)行清晰檢測(cè)的解決方案。它設(shè)計(jì)用于高達(dá) 600 kV 的工作電壓，可減少不必要的散射輻射，并提供低噪聲電子設(shè)備和高效閃爍體。

UNECS系列是可以高速、高精度測(cè)量薄膜膜厚和折射率的分光橢偏儀。采用的測(cè)量方式，實(shí)現(xiàn)了高速測(cè)量和機(jī)體的小型化。 我們的產(chǎn)品陣容包括便攜式，自動(dòng)式和對(duì)應(yīng)真空環(huán)境的設(shè)備內(nèi)置式類型。

SE 401adv 通過(guò)映射高達(dá) 200 毫米的液體單元、用于原位測(cè)量的液體單元、攝像機(jī)、自動(dòng)對(duì)焦、模擬軟件和經(jīng)過(guò)認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)晶圓，可根據(jù)您的需求進(jìn)行調(diào)整。

SENTECH SER 800 PV光譜橢偏儀符合PERC、TOPCON、HJT和鈣鈦礦技術(shù)等新型太陽(yáng)能電池技術(shù)的研發(fā)要求。它操作簡(jiǎn)單，具有高測(cè)量靈敏度、去偏振校正和特殊的聚光光學(xué)元件，使其成為在粗糙樣品表面上進(jìn)行光伏應(yīng)用的理想工具

多角度激光橢偏儀 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波長(zhǎng)為 632.8 nm 時(shí)，在紋理單晶和多晶硅片上提供抗反射單膜的膜厚度和折射率?？筛鼡Q晶圓支架允許在多晶硅片和堿性紋理單晶硅片上進(jìn)行測(cè)量。

SENTECH RM 1000 QC反射儀設(shè)計(jì)用于快速簡(jiǎn)單地測(cè)量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制。該工具涵蓋 20 nm 至 50 μm 的膜厚范圍，可用于 100 μm 的測(cè)試圖案。